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基礎信息Product information

產品名稱：美國吉時利KEITHLEY萬用表2001

產品型號：

更新時間：2025-06-07

產品簡介：

美國吉時利KEITHLEY萬用表2001中國電子行業儀器優質供應商——堅融實業JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務Service，3S公司，提供專業的解決方案，測試測量技術改進、技術培訓、采購管理、售后維修服務。

產品特性Product characteristics

中國電子行業儀器優質供應商——堅融實業JETYOO INDUSTRIAL，Support、銷售Sale、服務Service，3S公司，提供專業的解決方案，測試測量技術改進、技術培訓、采購管理、售后維修服務。

吉時利KEITHLEY2000，2001,2002,2010萬用表應用領域：
 離散和無源元件 
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻

–三抽頭器件——小信號雙極結型晶體管（BJT）、場效應晶體管（FET）等等 
 簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感器
 集成器件——小規模集成（SSI）和大規模集成（LSI）
–模擬IC 
–射頻集成電路（RFIC）
–集成電路（ASIC）
–片上系統（SoC）器件
 光電器件，例如發光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發射激光器（VCSEL）、顯示器

 圓片級可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
 太陽能電池
 電池
暫態抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器
電路保護器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關、繼電器
碳納米管
半導體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機電子
基本運放電路
二極管和電路
晶體管電路

測試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數測試
直流電源
HIPOT
介質耐受性

雙極結型晶體管設計
結型場效應晶體管設計
金屬氧化物半導體場效應晶體管設計
太陽能電池和 LED 設計
高電子遷移率晶體管設計
復合半導體器件設計

分析納米材料和實驗器件
碳納米管的電測量標準
測量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測量
在低功率和低壓應用中實現準確、可靠的電阻測量
納米級器件和材料的電氣測量
提高超高電阻和電阻率測量的可重復性
一種微分電導的改進測量方法
納米技術準確電氣測量的技術
納米級材料的電氣測量
降低外部誤差源影響的儀器技術
迎接65nm節點的測量挑戰
測量半導體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測量電流
柵極電介質電容電壓特性分析
評估氧化層的可靠性

的半導體器件結構設計和試驗低電阻、低功耗半導體器
輸出極低電流和測量極低電壓分析現代材料、半導體和納米電子元件的電阻
低阻測量(低至10nΩ)分析導通電阻參數、互連和低功率半導體。
用于*進CMOS技術的脈沖可靠性測試
高K柵極電介質電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測量技術進行更高準確度的電阻測量
配置分立電阻器驗證測試系統
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產測試
多臺數字源表的觸發器同步
高亮度、可見光LED的生產測試
OLED顯示器的直流生產測試
在運行中第5次測量用于偏置溫度不穩定特性分析
數字源表的緩沖器以及如何用這兩個緩沖器獲取多達5000點數據
連接器的生產測試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析

1. MOS 電容器
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
摻雜類型 – 氧化層厚度 – 平帶電壓 – 閾值電壓 – 襯底摻雜 – zui大耗盡層

寬度 – 反型層到平衡的靈敏度：電壓掃描率和方向 – 光效應和溫度效應。
I-V 曲線分析：
電荷建立 (測量電壓 - 時間圖，用低電流源)； 氧化層電容測定； 與 C-V 曲線

比較。
C-V 曲線 (準靜態) 結合 C-V 曲線：
表面電位 Ψs 與施加電壓的關系 – Si (100) 的表面態密度 Dit = f (Ψs) 與 

Si (111) 的相比：方向和后處理退火的影響。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
移動氧化層電荷密度 (偏壓溫度應力：200°C，10 分鐘，±10V)
 
2. 雙極結型晶體管
     主題
   正向共發射極輸出特性：Ic = f (Vce>0,Ib), Iceo (f) 測量。
   正向 CE 輸入特性：Ib = f (Vbe) 對于幾個 Vce 正值。
   正向 Gummel 曲線： log Ic, log Ib = f(Vbe >0).
   確定增益 βf = Ic/Ib 和 af。
   Βf 與 log(Ic) 的關系： 低注入和高注入的效果。
   非理想特性：爾利電壓。
   反向 CE 輸出特性： Ic=f(Vce<0,Ib), Iceo(r).
   反向 CE 傳輸特性：Ib=f(Vbe) 對于幾個Vce負值。
   反向 Gummel 曲線： logIe, logIb=f(Vbc>0).
   確定增益 βr = Ie/Ib 和 ar。
   Βr 與 log(Ie) 的關系： 低注入和高注入的效果。
   Vce(sat) = Vbe(on) – Vbc(on) 確定，對于給定的 Ib 電流。
   Ebers Moll 模型構建并且與實驗做比較。
   BE 和 CE 結的 C-V 特性分析。基區摻雜濃縮。
 
3. 亞微米集成 MOSFET
輸出特性：IDS = f(VDS,VGS):
p型 MOSFET (增強或耗盡)，溝道長度調制參數(λ) 在飽和區域 (VDS<–3V) 有效

溝道長度與 VDS 的關系。
傳輸特性：
IDS = f(VGS) and Transconductance gm = f(VGS) in the linear region (VDS 

= –0.1V): Determination of the threshold voltage VT and of the 

transconductance factor k.  
Derivation of the effective channel mobility μeff as function of VGS.
襯底偏壓特性： 
IDS = f(VGS,VBS>0), determination of the γ factor in the linear region 

(VDS = –0.1V). Doping concentration substrate.
亞閾值特性：
log (IDS) = f(VGS) for several high VDS values: Drain Induced Barrier 

Lowering (VT shift) effect.
襯底電流特性：
log (Ibs) = f(VGS) for several high VDS values: Hot carrier injection 

effects. Incidence on output characteristics at high drain levels.
使用長溝道和短溝道公式的輸出特性模型：比較實驗結果。

美國吉時利KEITHLEY萬用表2001概述

    用戶在實際應用中通常需要具有較高分辨率、準確度和靈敏度，以及高產能的產品。現在有兩款吸引力的數字多用表可供選擇。吉時利推出的keithley2001型七位半和keithley2002型八位半高性能數字多用表所具備的性能指標通常只能在那些價格昂貴數千倍的測量儀器上才能獲得，不僅如此，它們的功能比常規的數字多用表更加豐富。
 
 keithley2001七位半吉時利數字多用表特點
七位半 （2001型）或八位半 （2002型）分辨率
高速的多功能測量性能
多種內置測量功能
內置的10通道掃描器選件
兼容IEEE－488.2和SCPI接口
2002型具備HP3458A仿真模式 
 
美國吉時利KEITHLEY萬用表2001主要指標

 標配件

1751型2線通用測試探頭（適用于175A、197A、2000、2001、2002、2010、2015、2016） 

選購配件
槽口蓋板
MEM1：32k存儲器
MEM2：128k存儲器
2000-SCAN：10通道通用掃描卡
2001-TCSCAN：9通道掃描卡用于冷端補償的溫度測量、電壓、電阻和/或頻率測量
2001-SCAN型：10通道掃描卡，帶8個繼電器輸入和2個固態輸入
 
keithley2001七位半吉時利數字多用表配套產品
7001，7001型80通道程控開關控制器
7002，7002型400通道程控開關控制器

keithley美國吉時利萬用表系列產品
keithley2000-20型六位半數字多用表（帶20通道掃描卡）
keithley2000/2000-SCAN型、2000型六位半數字多用表（帶2000-SCAN型10通道掃描卡）
keithley2001型高性能七位半數字多用表，帶8k存儲器
keithley2010型七位半低噪聲自動變量程數字多用表
keithley2700型數字多用表，數據采集，數據記錄系統，帶2個插槽
keithley2750型數字多用表/數據采集/開關/數據記錄系統
keithley2002/ MEM1型高性能八位半數字多用表（帶32k內存）
keithley2002/ MEM2型高性能八位半數字多用表（帶128k內存）