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SD4.0總線協議分析解決方案
日期：2016-06-07瀏覽：3754次
公司致力于提供記憶存儲SD/eMMC綜合測試解決方案，目前測試產品有SD/eMMC總線協議分析儀、SD卡模擬及SD Host Tester。
需要額外購買的host端，用戶一般都是在相關的電子論壇找到，購買回開發板后根據自己的需要進行一些改進。參考如http://www.elecfans。。ｃｏｍ/emb/364544_4.html
型號：ODROID-XU3
SD4.0總線協議分析儀應用簡介
SD3.0為SD2.0的下一代，主要是制定更高的容量與更快的速度，而市面上常見的SDHX，就是SD3.0所規范的產品，現今SD卡已被廣泛運用到數字相機、智能型手機、筆記型計算機或各式3C產品上做儲存媒體用，運用范圍相當廣。
SD4.0總線協議分析儀功能介紹
Secure Digital(SD)為一種存儲卡，全名應該是Secure Digital Memory Card，中文翻譯為安全數碼卡或直接稱為SD卡，是一種記憶卡的標準，它被廣泛地于攜帶型裝置上使用，例如數字相機、個人數碼助理（PDA）和多媒體播放器(MP3)到近期很夯的智能型手機(Smart phone)等。
SD4.0總線協議分析儀規格
通道名稱 CLK, CMD and Data0~3
頻率 25/50/52/100/208MHz
應用領域 攜帶式儲存記憶卡, 廣泛使用在消費型電子產品
支持SD卡模擬功能
支持持SD Host Tester功能
支持eMMC5.0版本HS400協議分析，同時該平臺能夠向下兼容eMMC4.51 HS200 1bit/4bit/8bit以及eMMC4.41協議分析功能
支持SD4.0/SD3.0版本協議分析
支持SDIO3.0版本協議分析，1bit/4bit/8bit
內存32GB，支持系統電壓：3.3v/1.8v/1.2v
一、SD/eMMC協議分析儀功能
1) SD4.0及以下版本
2) SDIO ver3.00及以下版本
3) eMMC ver5.1及以下版本
二、SD卡模擬功能
可以模擬SD卡的功能是否兼容SD記憶卡物理規范3.01版本。在模擬過程中，可以顯示主機系統之間的總線活動，仿真包括速度等級（2,4,6,10）。此外，一些“真正的”SD卡難以控制的條件如BSY time，初始化時間，CRC錯誤等，可以在寄存器中編程（CID，CSD，SCR，OCR、SD_STATUS）。
三、SD Host Tester功能
SD記憶卡的物理符合性測試項目：初始化，讀/寫/擦除協議，非正常操作如BSY超時、初始化超時、CRC錯誤等。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 美國BK PRECISION
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
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